WeibangTvåslits HAST högtryck accelererad åldrande lådaEngelska namnet (2-Zone HAST CHAMBER) används för IC-förpackningar, halvledare, mikroelektronikchips, magnetiska material och andra elektroniska delar för högtryck, hög temperatur, omättnad / mättad våt värme och andra pålitliga tester av accelererad livslängd.

►Använder upp och ner dubbla slott design, spara laboratoriet utrymme,Priset på en enhet = värdet på två enheterMinska kostnaderna för användning av utrustning.

►Enkelskärms dubbelkontroll, minskar komplexa och obehagliga inställningar, möter olika prover samtidigt testas och förbättrar testeffektiviteten.

►96-vägs biastrycksterminaler är utformade för att uppfylla chip biastryckstest.

►Produkten är kompatibel med konstant våttvärmetest för HAST-omättnad högtrycksånga och PCT-mättad högtrycksånga.

►Automatisk låda dörr design, knapp kontroll låda dörr öppnas, med tryckskydd.

Tillämpningsområden：

För PCB, IC-halvledare, kontakter, kretskort, magnetiska material, polymermaterial, EVA、 Industrirelaterade produkter som fotovoltaiska komponenter för påskyndad åldrande livslängd test

Uppfyller standarderna：

AEC-Q100-REV-J

AEC-Q101-REV-E

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Miljöprovning av elektriska och elektroniska produkter Del 2: Testmetod Cx: Konstant våt värme av omättnad högtrycksånga

IEC60068-2-66-1994 Miljöprovning. Avsnitt 2-66: Testmetoder. Test Cx: konstant våt värme

Temperatur- och fuktighetsförskjutningslivslängd för JESD22-A100-cykler

JESD22-A101 Stabil temperatur, fuktighet / biastryck, livslängdsprov (temperatur, fuktighet, biastryck)

JESD22-A102 test för högtrycksångning (accelererad anti-fuktig penetration)

JESD22-A108 Temperatur, biasspänning och livslängd

JESD22-A110 HAST högaccelererad temperatur- och fuktspänningsprov

JESD22-A118 Temperatur- och fuktighetsexperiment med hög acceleration utan biasspänning UHAST (omättnad högspänningsånga utan biasspänning)

* Anpassningsbara parametrar och modellstorlek