huvuddelen
Instrument och mätare
BMM-100DIC differentiell interferens industriell metallfasmikroskop
BMM-100/100BD ljus mörkt fält industriell metallisk mikroskop
BMM-230BD DIC ljus mörkt fält differentiell interferens inverterad metallfasmikroskop
BTM-23R forskningsgrad omvänd metallfasmikroskop
BTM-34R forskningsklass positionell metallfasmikroskop
BMM-210 omvänd horisontell metallisk mikroskop
Lyckad operation!